億昇精密焊接設(shè)備(多圖)-東城ICT測試自動運(yùn)行機(jī)構(gòu) ：

在線測試，ICT，In-Circuit Test，是通過對在線元器件的電性能及電氣連接進(jìn)行測試來檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標(biāo)準(zhǔn)測試手段。它主要檢查在線的單個(gè)元器件以及各電路網(wǎng)絡(luò)的開、短路情況，具有操作簡單、快捷迅速、故障定位準(zhǔn)確等特點(diǎn)。 是一種元器件級的測試方法用來測試裝配后的電路板上的每個(gè)元器件

EA—2在線測試設(shè)備為上下兩層可同時(shí)在線測試設(shè)備，主要由左右升降部分與上下測試部分而成。當(dāng)需要提高生產(chǎn)效率單層測試時(shí)間需要很長時(shí)，可使用雙層測試來實(shí)現(xiàn)，可提高生產(chǎn)率，降低等待測試時(shí)間。

企業(yè)視頻展播，請點(diǎn)擊播放

視頻作者：深圳市億昇精密光電科技有限公司

ICT測試要做到故障定位準(zhǔn)、測試穩(wěn)定，與電路和PCB設(shè)計(jì)有很大關(guān)系。原則上我們要求每一個(gè)電路網(wǎng)絡(luò)點(diǎn)都有測試點(diǎn)。電路設(shè)計(jì)要做到各個(gè)器件的狀態(tài)進(jìn)行隔離后，可互不影響。對邊界掃描、Nand-Tree的設(shè)計(jì)要安裝可測性要求。

EA—2在線測試設(shè)備為上下兩層可同時(shí)在線測試設(shè)備，主要由左右升降部分與上下測試部分而成。當(dāng)需要提高生產(chǎn)效率單層測試時(shí)間需要很長時(shí)，可使用雙層測試來實(shí)現(xiàn)，可提高生產(chǎn)率，降低等待測試時(shí)間。

ICT測試治具要求每一個(gè)電路節(jié)點(diǎn)至少有一個(gè)測試點(diǎn)。但隨著器件集成度高，功能越來越強(qiáng)，封裝越來越小，SMT元件的增多，多層板的使用，PCB板元件密度的增大，要在每一個(gè)節(jié)點(diǎn)放一根探針變得很困難，為增加測試點(diǎn)，使制造費(fèi)用變高；同時(shí)為開發(fā)一個(gè)功能強(qiáng)大器件的測試庫變得困難，開發(fā)周期延長。為此，聯(lián)合測試組織（JTAG）頒布了IEEE1149.1測試標(biāo)準(zhǔn)。具有邊界掃描的器件的每個(gè)引腳都和一個(gè)串行移位寄存器（SSR）的單元相接，稱為掃描單元，掃描單元連在一起構(gòu)成一個(gè)移位寄存器鏈，用來控制和檢測器件引腳。其特定的四個(gè)管腳用來完成測試任務(wù)。